申請/專利權人：成都數之聯科技股份有限公司

申請日：2023-05-10

公開（公告）日：2023-07-14

公開（公告）號：CN116433651A

主分類號：G06T7/00

分類號：G06T7/00;G06V10/774;G06V10/82;G06V10/764;G06N3/084

優先權：

專利狀態碼：在審-公開

法律狀態：2023.07.14#公開

摘要：本發明提供一種小樣本面板缺陷檢測方法、系統、設備及存儲介質，涉及缺陷檢測技術領域，所述方法包括步驟為：基于原始樣本圖像預訓練深度學習模型，以得到缺陷檢測模型M1，其中，所述缺陷檢測模型M1包括特征提取器和分類器；對原始樣本圖像和新樣本圖像進行樣本融合處理和或樣本平衡處理，以得到訓練數據集；基于訓練數據集對缺陷檢測模型M1的分類器進行參數調整，以得到缺陷檢測模型M2；基于缺陷檢測模型M2對待檢測圖像進行缺陷檢測，以輸出缺陷識別和分類結果。本發明采用模型微調的訓練方式，對于少量樣本的缺陷能夠更好地學習到相關的特征信息，進而提升缺陷檢測的準確度。

主權項：1.一種小樣本面板缺陷檢測方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟：基于原始樣本圖像預訓練深度學習模型，以得到缺陷檢測模型M1，其中，所述缺陷檢測模型M1包括特征提取器和分類器；對原始樣本圖像和新樣本圖像進行樣本融合處理和或樣本均衡處理，以得到訓練數據集；基于訓練數據集對缺陷檢測模型M1的分類器進行參數調整，以得到缺陷檢測模型M2；基于缺陷檢測模型M2對待檢測圖像進行缺陷檢測，以輸出缺陷識別和分類結果。

全文數據：

權利要求：

百度查詢： 成都數之聯科技股份有限公司 一種小樣本面板缺陷檢測方法、系統、設備及存儲介質

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